imecの研究開発計測マネージャー。仏INPGで半導体物理学の博士号を取得。キャリアの初期はリソグラフィの研究開発エンジニアとして活躍した後、2008年にimecに入社し、高度なパターニングアプリケーション向け計測技術の研究に従事した。現在はimecの研究開発マネージャーとして、高度な半導体技術の計測と検査を統括している。高度なロジック、メモリ、パターニング、パッケージングにおける将来のブレークスルーを可能にする次世代の計測・検査ソリューションの開発を目指している。彼女のチームの使命は、imec独自のグローバルな業界パートナーとの協働エコシステムと世界クラスの研究インフラを活用することで、業界のニーズを先取りし、イノベーションを加速させることだという。