12月15日から17日にかけて東京ビッグサイトにて開催されている「SEMICON Japan 2021 Hybrid」にて、テクトロニクス社/ケースレーインスツルメンツ社ブースでは、オシロスコープでGaN/SiCの波形を見ることを可能とするIsoVu光アイソレーション型差動プローブ「TIVPシリーズ」のデモを行っている。

ハイサイドVgs(ゲート-ソース間電圧)などのフローティング差動測定は、周波数が高く、またオシロスコープ用のプローブには高い周波数帯域で十分なコモンモード除去能力がないため、測定値は実際の差動信号ではなく、コモンモードの誤差の影響を大きく受けることとなり、測定が難しいという課題があった。

同プローブは、DC～1GHzの周波数帯域幅、160dB(DC～1MHz)のコモン・モード除去、±2500Vの差分レンジといったプローブ負荷性能を有しており、GaN/SiCデバイス用パワーFETの設計/解析を可能にするという。

また、現在提供されている第2世代IsoVuモデルは、前世代比でサイズを1/5に小型化、使いやすさを向上させたという。

ブースのデモとしてはGaNチップを用いたハイサイドVgsの測定が行われており、オシロスコープ上でその波形を確認することができるようになっている。

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  • テクトロニクスブースにおけるGaNチップを用いたハイサイドVgsの測定デモの様子

またブースでは、ケースレーのアナライザなどの展示も行われているが、新製品となるパラメトリック・テスト・システム「S530/S530-HV型」はかなり大型な製品ということで、実機展示は行われておらず、パネル展示での紹介となっていた。

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    新製品となるパラメトリック・テスト・システム「S530/S530-HV型」の紹介パネル