テクノロニクス社は7月3日、USB 3.0テスト・ソリューションを強化し、SuperSpeedPlus 10Gbps仕様に対応したトランスミッタ・テスト・ソリューション(Opt.SSP)を開発したこと、ならびにオシロスコープをベースにしたUSB 3.0のレイヤ・デコード機能とSuperSpeed USBトランスミッタの自動テスト・ソリューション(Opt.USB-TX)を追加したことを発表した。
USB 3.0のデータ・レートの高速化によるテストにおいて注意すべき点はチャンネル損失の増加であり、信号対ノイズ比が低下し、検証すべきリンク・トレーニングとタイミング要件が複雑化し、設計マージンが少なくなるため、正確で規格独自の測定システムの存在が重要になってくるという。
同ソリューションはこうしたニーズに対応することを目的に開発されたもので、USB 3.0デコード・ソフトウェアは、プロトコル独自のトリガ機能、高い操作性によるサーチ/検索機能、マルチ・レイヤ・デコード機能により、デバッグ作業の容易化を実現することができるほか、プロトコル・スタック内の検索による、ディスプレイ上でアナログ波形との時間相関をとることができるようになるという。
また、TekExpress USB自動化ソフトウェア(Opt.USB-TX)は、同社のUSBコンプライアンス・テスト技術ノウハウと、性能改善が可能な新たなソフトウェア・アーキテクチャの採用により、テスト時間の最大約60%短縮が可能になるという。
