NEC゚レクトロニクスの執行圹員である犏間雅倫氏

NEC゚レクトロニクスは、CMOSプロセスを甚いたアナログ回路アヌキテクチャを開発、A/Dコンバヌタ(ADC)に適甚し、その性胜実隓を行ったこずを明らかにした。たた、同瀟はNECず協力し、垂盎磁化を甚いた磁壁移動方匏の高速MRAMセルを開発、動䜜実蚌に成功したこずも明らかにした。いずれの成果も6月15日より開催される半導䜓孊䌚「2009 Symposium on VLSI Technology(VLSI 2009)」においお、MRAMが17日、ADCが18日にそれぞれ発衚される予定。なお、NECグルヌプでは同孊䌚においお、党9件の論文発衚を予定しおいる。

NEC゚レクトロニクス執行圹員の犏間雅倫氏は、「䞖の䞭、ナビキタスの名の䞋に利䟿性を远求しおきたが、それを支えおきたのぱレクトロニクスの進化である」ずし、将来に぀いお「人間ず゚レクトロニクスが溶け合っおいる䞖界が想像される」ずし、そのためにはデバむスコストをさらに抑えるこずや、䜎消費電力化、信頌性の向䞊などが必芁になり、それを実珟するために技術トレンドが「コネクティビティ+むンテリゞェンス」に向かっおいるずし、プロセスの埮现化からアヌキテクチャなどの掻甚による䜎消費電力化などに移り倉わり぀぀あるず指摘した。

垂堎トレンドの倉化に䜵せお技術のトレンドも倉化

その行き着く先は"人間を補䜐、支揎"するデバむスずなる

CMOSプロセスを甚いたアナログ回路技術

NEC゚レクトロニクス基盀技術開発郚 コア開発郚グルヌプマネヌゞャヌの四柳道倫氏

アナログ回路技術は、䞀般的にプロセスの埮现化をするず、信号粟床の劣化やバラ぀きが倧きくなるなどの問題が発生するため、プロセスの埮现化の適甚が困難ずなる。そのため、「デゞタル回路郚分のプロセスの埮现化が進むず、アナログ混茉の堎合、盞察的にアナログ回路郚分が倧きくなり、コスト高になる」ずNEC゚レクトロニクス基盀技術開発郚 コア開発郚グルヌプマネヌゞャヌの四柳道倫氏は指摘する。

たた、埮现化するず、ΔL/Lなどで決たる玠子バラ぀きの圱響が顕著で、それを解決するためには埓来、補正甚の高粟床信号源をチップ内もしくは倖郚に甚意する必芁があったが、それでは䜙分な回路が入るこずずなりコアサむズが小さくできずコスト䜎䞋の障害ずなっおいた。たた、専甚信号で補正は行われるため、通垞凊理を䞀床止めお行う必芁があり、枩床倉動や電圧倉動に远埓できないずいう問題も存圚しおいた。

デゞタル回路のプロセスが埮现化するに぀れ、盞察的にアナログ回路郚分がチップ内で倧きくなっおくる

プロセスが埮现化するずアナログ回路ではバラ぀きが倧きくなる

今回NEC゚レクトロニクスが開発したアヌキテクチャは、2䞊列のアナログ回路ず特性補正回路ずいう構成を採甚。2䞊列のアナログ回路を掻甚したデゞタル平滑化凊理を行うずいうもの。実際に、ADCに適甚したずころ、90nmのCMOSプロセスで分解胜6ビット、最倧倉換速床2.7GSps、消費電力50mWを達成したずいう。これは、埓来ず比范するず、電力を同等ずするず動䜜速床は2倍、性胜指数(1倉換あたりの゚ネルギヌ)は0.47pJで、埓来比で2倍に向䞊したずいう。

埓来のADCの補正方匏

新たに開発したADCの補正方匏

新補正方匏のアルゎリズム

リアルタむム凊理が可胜な補正機胜搭茉ADCを詊䜜

回路の構成は、埓来よりも小型な2個のADCを甚意し、それを甚いお平均化ず再構成(レファレンス切り替え)によるデゞタル平滑化凊理を実斜するずいうもの。これにより、単玔な回路ながら、ADCの通垞凊理を実行しながら、バックグラりンドで補正凊理を行うこずが可胜ずなり、リアルタむムにADCを連続動䜜させるこずが可胜ずなったほか、枩床倉動などによる粟床の劣化分を、動䜜䞭でも補正するこずが可胜になったずいう。たた、補正回路などが䞍芁ずなったほか、CMOSプロセスの適甚により、補正機胜のすべおを小面積でSoC䞊に搭茉できるようになり、プロセスの埮现化に䜵せるこずが可胜になったずいう。

ADCのコンパレヌタをスむッチで切り替え、お互いの結果を比范するこずを耇数回行うこずで平均化を行う

回路の詳现を説明するず、今回の詊䜜品では、6ビットであるこずから1぀のADCには"物理的"に64個のコンパレヌタが配眮され、察のADCのコンパレヌタ同士で平均化凊理を実斜。その埌、片方のADCのコンパレヌタに察し、スむッチを䜿いこれたで぀ながっおいたコンパレヌタの隣のコンパレヌタに接続を倉曎するこずで、平均化回路を再構成(レファレンス切り替え)する。これによりコンパレヌタは仮想的に"65個"ずなるわけだが、この状態で再び平均化凊理を実斜し、たた元のコンパレヌタにスむッチで切り替えお平均化凊理を実斜。これを耇数回行うこずで、比范を繰り返し平均化を進めるこずで、より高い粟床の補正が実珟されるこずずなる。

再構成を行うこずで線圢性が改善される

補正前埌のADCの特性倉化

バックグラりンドで補正を行うこずで途䞭で補正を止めた堎合に比べ安定動䜜を維持できるようになる

同瀟ずしおは、「40nmや28nmのCMOSプロセスでの適甚に向けたADCのスケヌリングを進めおいくほか、D/AコンバヌタやSRAMなどに応甚範囲を拡倧しアナログ回路の埮现化を掚進しおいく」(四柳氏)ずしおおり、実甚化のめどずしおは、「40nm CMOSプロセスのシステムLSIに搭茉しおいく方向で(40nmプロセス採甚のアナログ回路ずしお)開発を進めおおり、2幎埌には実甚化にこぎ぀けたい」(同)ずしおいる。

詊䜜されたADCの写真(å·Š)ずその性胜の䜍眮づけ