産業技術総合研究所(産総研)は1月16日、大規模な量子コンピュータの開発に不可欠な、低温環境下での高周波回路の電気的特性を評価するための新技術を開発したと発表した。
同成果は、産総研 量子・AI融合技術ビジネス開発グローバル研究センターの荒川智紀主任研究員、産総研 計量標準総合センター 物理計測標準研究部門の加藤悠人主任研究員、同・昆盛太郎研究グループ長らの共同研究チームによるもの。詳細は、米国物理学協会が刊行する応用物理学全般を扱う学術誌「Applied Physics Letters」に掲載された。
実用的な量子コンピュータを構築するには百万量子ビットが必要だと言われているが、その実現にはまだ遠く、いくつかの課題が残されている。その1つが、極低温下の量子ビットと室温の計測機器を接続するための低温高周波回路の高密度化だ。そのため、高周波基板材料を利用した各高周波部品(増幅器、アッテネーター、フィルターなど)の集積化や高密度フラットケーブルの開発は直近の課題とされている。これまで産総研は、高周波帯でのデバイス評価や材料評価のための計測技術を開発してきた。そして今回は、低温高周波回路の開発を加速させるため、そうした計測技術を組み合わせて低温環境下での材料評価技術の開発に着手したという。