12月15日から17日にかけて東京ビッグサイトにて開催されている「SEMICON Japan 2021 Hybrid」にてアドバンテストは2021年11月に発表した最終製品と同様のファームウェアとドライバが動作する環境でテストすることが可能となるデジタルカード「Link Scale」をはじめとした新製品などの展示を行っている。

  • V93000

    V93000テストシステムの展示

  • Link Scale

    パッケージングされたLink Scale

Link ScaleはSoCテストシステム「V93000」用のモジュール。Link Scaleは、テスト対象のデバイスと通信することで、最終製品と同様のファームウェアとドライバが動作する環境でテストすることが可能だという。

そのため、これまではシステムレベルテストでしか判定できなかった不良を前段階で見つけることができるようになるため、現場のフィードバックを効率化することができるとしている。

1億画素超えのCMOSイメージセンサのテストも可能な画像処理エンジン

このほか、同社が12月に発表したCMOSイメージセンサテスト用の画像処理エンジン「T2000 IPEngine 4」も紹介されている。

CMOSイメージセンサの画素数が増加し、最新のスマートフォンに搭載されているCMOSイメージセンサの中には画素数が1億画素以上というものもでてきた。画素数が増えると検査にも時間がかかることから、テストタイムを短縮したいというニーズがあったという。

T2000 IP Engine 4は大量の画像データを高速処理し、テスト時間とコストを削減することができるというもので、画像キャプチャ・モジュール「4.8GICAP」と合わせて使用することで、3.5GSps C-PHYや4.8Gbps D-PHYなど実動作レートで多数個同時にテストすることが可能。また、イメージ・プロセッシング・アクセラレータにより、2億画素以上のCMOSイメージ・センサに対してもテスト時間とコストを低減したテスト環境を提供することができるとしている。

  • 展示

    T2000のCMOSイメージセンサソリューション(T2000 ISS)のイメージ・キャプチャ・モジュール。モニター下のショーケースに展示されているのが新しくリリースされた4.8GICAP

高速なメモリテストを可能とした新製品も展示

また、11月に発表したメモリテストシステムの新製品「T5835」と「T5221」についてもブースで紹介されている。

T5835は従来製品「T5833」の後継機として、同製品比2倍以上となる5.4Gbpsのテスト・スピードと多数個同時測定が可能。

T5221はNANDフラッシュをはじめとする不揮発性メモリ向けのテストシステム。従来製品比5倍のデータ転送速度、マルチプローバ内部に組み込み可能な省スペース、最大12台のテスト・ステーションを同時測定可能といった特徴を備え、スループットを向上させることが可能だという。

このほか、同社ブースでは、テスト装置の故障時にVRを用いて、エンジニアが遠隔から修理の指示などを行うサービスといったソリューションなども紹介されている。

  • アドバンテストブース

    SEMICON Japan 2021 Hybridのアドバンテストブース