JFE商事エレクトロニクス、メモリテスト・リペア技術の日本での提供を開始

車載グレードのメモリテスト・リペアソリューションを日本で提供

JFE商事エレクトロニクスは1月26日、車載グレードのメモリテスト・リペアソリューションを手掛ける台iSTART-TEKと正規販売代理店契約を締結したことを発表した。

SoCをはじめとするロジック半導体で生み出されるデータを保管するなどの役割を担うメモリは、AIでの需要拡大などを背景に使用量が急増している一方、製造歩留まりの低下や経年劣化によるシステムダウンなどが問題となることから、国際規格であるISO 26262においてもメモリ保護は機能安全の最重要項目として位置づけられている。

同社は、そうした市場背景を踏まえ、日本の先端半導体開発の競争力向上に同ソリューションが不可欠と判断し、今回の提携に至ったという。

歩留まりの最大化とフルライフサイクル監視によるシステムダウン抑止を実現

具体的には、同ソリューションでは、独自技術によるメモリ欠陥の高精度検出および最適なリペア回路を自動生成することで、製造コストの削減を図ることを可能とするほか、製造時から稼働中まで常時監視することで、経年劣化や故障を自律検知・修復することを可能とし、システムダウンを防ぐことができるようになるとする。

また、AIの活用によって複雑なメモリテスト設計を自動化できるため、市場への投入期間の短縮を図ることも可能だとするほか、MRAMやeFlashなど、さまざまな不揮発性メモリにも対応できるともしている。

なお、JFE商事エレクトロニクスでは、今回の契約を機に、AIアクセラレータ、HPC、次世代モビリティなど大容量メモリを搭載するハイエンドSoCの開発を行っている企業や車載グレードの半導体を開発する企業に対し、「歩留まり改善・ライフサイクル監視ソリューション」として提供を行っていくとしている。