レゾナックは、表面分析手法のひとつである走査型プローブ顕微鏡に関する特許技術について、島津製作所と非独占的実施権によるライセンス契約を2月14日に締結したと発表。今後、島津製作所が販売する同顕微鏡のオプションソフトウェアとして、レゾナックの技術搭載が検討されるという。

  • SPMの装置略図

走査型プローブ顕微鏡(SPM：Scanning probe microscopy)は、ナノメートルオーダーで材料表面の微細な形状を調べることができる顕微鏡で、産業界にも普及しているもの。SPMでは、カンチレバーと呼ばれる板バネの先端についた探針を材料表面に近づけ、材料表面から受ける力を利用し、表面の形状を顕微鏡像として出力する。

SPMの測定方法をフォースカーブモード(探針を試料表面で垂直にスイープさせ、試料とカンチレバーとの距離を変えながら力を測定する手法)にすると、材料の形状に加え、凝着力(ふたつの表面が互いに接触したままでいようとする力)や弾性率(材料の変形のしにくさやかたさ)も顕微鏡像として出力できる。

従来の技術では、鮮明な画像が得られなかったり、データの解釈に注意を要したりすることが課題だったが、レゾナックは上記の測定時に、探針と材料表面との間に引力がはたらく距離に着目。この距離を「破断長」と定義し、大量のデータを効率よく解析できる技術を見出して、破断長像として出力しやすくしたという。

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