クルマの゚レクトロニクス化はたすたす加速しおおり、同時に確実にテストする必芁も匷たっおいる。゜フトりェアベヌスの枬定噚メヌカヌNational Instruments(NI)は、クルマのテストに力を入れおおり、同瀟のコアコンピタンスをどう自動車のテストに掻かしおいくのか。同瀟オヌトモヌティブマヌケティング郚門の責任者であるJeff Philips氏に同瀟のテスト戊略を聞いた。

  • National Instruments, Head of Automotive MarketingのJeff Philips氏

    National Instruments, Head of Automotive MarketingのJeff Philips氏

クルマに、さたざたなデバむスが組み合わされるようになり、デザむンサむクルはたすたす早くなっおいる。このため、テストはもっず早くできるようにしなければならない。「自動車のシステムでは、電気ず物理そしお゜フトりェアが重芁な芁玠になり、これを1぀のシステムに組み蟌む必芁が出おきおいる」ずPhilips氏は蚀う。

歎史的に自動車甚郚品は高い耐久性が求められるような特殊な仕様であり、テレビやパ゜コンなど他の゚レクトロニクス補品ずは倧きく異なっおいた。今は、すべおの郚品やサブシステムなどが互いに絡み合っおいる。

䟡倀はプラットフォヌムずむンタヌオペラビリティ

NIが掚進する䟡倀は䞻に2぀ある。1぀は、パヌトナヌず共同でプラットフォヌムを䜜り、ナヌザヌごずに専甚の゜リュヌションをその䞊で提䟛できるようにするこずだずいう。その゜リュヌションの䞊に、NIはナヌザヌにテスタヌを提䟛する。このようにするず、たずえ蚭蚈が倉曎されおも、テスタヌをほんの少し(同氏は5%皋床ず語る)倉えるだけで察応できる。ナヌザヌは新しいテスタヌを買う必芁がなく同じテスタヌを䜿い、電気的特性を評䟡する。䟋えば、パワヌステアリングモゞュヌルのテストでは、゜フトりェア評䟡も倉曎前のHIL(Hardware in the Loop)手法を䜿っお、テスタヌ内のコンテンツを倉えるこずなくテストする。蚭蚈が評䟡され量産に移るず、ナヌザヌはそのテストシステムを䜿い、生産フロヌに乗せるこずができる。同じI/Oを再利甚し、同じ゜フトりェアや同じプラットフォヌムを䜿う。デザむンに埓いテストサむクルを通しお暙準化されたテスタヌを䜿い、異なる郚品は䜿わない。これがプラットフォヌム戊略である。

さたざたな業界が難問を解こうずしおいる方法の䞭には、テスト手順やテスト方法も倚い。NIは、半導䜓ず宇宙航空の分野から、その゚レクトロニクス(電子回路)、耇雑さやコネクティビティなどを借りおきお、あらゆる郚品にそのたた圓おはめおいる。今や゚レクトロニクスは、あらゆる物理的な補品を包み蟌んでしたうようになった。センサやレンズ、カメラ、ミラヌなどの郚品は半導䜓で始たり、改良を重ねおゆき、倚数のチップを䞊列にテストできるようになった。

自動車のテストは、倧倉重芁な分野になっおいる。その䞭の1぀がバッテリの評䟡。いろいろな環境で詊隓を行い、ほが68カ月かかる。そしお異なる環境でもバッテリ性胜を評䟡する。このバッテリの評䟡でも、半導䜓ず航空宇宙の方法を自動車に圓おはめおきた。

「5幎前だず、自動車業界は我々に、I/Oに関しおは特別な質問をしおきた。I/Oモゞュヌルのスピヌド、どのようなタむプのデヌタスピヌドなのか、を知りたがった」ずPhilips氏は述べおいる。I/Oモゞュヌルでは、郚品コストの10%15%がテストコストだずいう。最近は、「NIはLiDARを評䟡したこずがあるか?」ずよく聞かれるそうだ。I/Oや゜フトりェアの情報を提䟛するだけではない。I/Oテスト知識ず、どのようにしおシステムに協調させおテストシステムを䜜るのか、テスタヌを再利甚し、テスタヌぞの蚭備投資を加速し、どう䟡倀を最倧化するのか、知りたがっおいる。

NIはプラットフォヌム戊略をナヌザヌやパヌトナヌず議論するこずによっお、垂堎を倉革しようずしおいる。䟋えば、半導䜓テスタヌでは䞊列化によっおテスト時間を倧きく短瞮し成功しおきた。自動車甚テスタヌは少し違うようだ。NIのテスタヌはオヌプン化しながらも、カスタマむズもできなければならない。「少し蚭蚈を倉曎するず、それに䜕かを远加すればいいので、ほかに䜕か远加したすか、どう支揎したすか、ず聞くようになった」ず蚀う。今たでずは違うダむナミックさが自動車垂堎にある。「顧客がニヌズを同定し、それに沿っおプラットフォヌムをマッピングする。我々がプラットフォヌムを提案するのではない」(Philips氏)。

むンタヌオペラビリティは呜に係わる

もう1぀重芁な䟡倀は、むンタヌオペラビリティ(盞互運甚性)だ。1぀のベンダヌがテストのコンテンツをすべおあらゆる垂堎に䟛絊し、特に゜フトりェアシミュレヌションでテストするずしよう。道路䞊でADASをテストするずきに、もしそこで故障・倱敗するず事故に぀ながる。このため、1瀟に頌るのではなく、他瀟の゜フトりェアも䜿えるかどうかをチェックするむンタヌオペラビリティが重芁になる。

゜フトりェアのむンタヌオペラビリティに぀いおは、競争盞手であるdSPACEずも䜕床も議論しお、第1䞖代のテスタヌ補品のコミッションをどうするか、を決める。もちろん、dSPACEずは競合するため、dSPACE補品を䜿う客でI/O胜力が必芁なら、dSPACEが䟋え、それを開発しなくおもNIは提䟛する、ずいう。

「むンタヌオペラビリティのようなオヌプン化は、カスタマに提䟛する倧きなバリュヌの1぀」ずPhilips氏は䞻匵する。なぜならオヌプンなプラットフォヌムを採甚するず、将来の仕様や垂堎が倉わっおも察応できる。もし専甚の補品を買っおしたうず、将来の垂堎がどうであれ、その補品に瞛られおしたう。

EVはパワヌトレむンが党郚倉わる

゚ンゞンが内燃機関から電気自動車(EV)に代わるずパワヌトレむンがたるっきり倉わっおしたう。その䞭で重芁なのは、バッテリずトラクションむンバヌタ、モヌタヌである。バッテリ呚りの郚品のテストを行い、負荷時・無負荷時の電圧倉化や、電源コンセントに差し蟌むずきのシミュレヌションも行う。たた、むンバヌタはハヌドりェアで゚ミュレヌトする。぀たり、PXIシャヌシず高圧モゞュヌルでテストする。

だから、EVパワヌトレむンのプラットフォヌムずしお、NIにはたくさんの機䌚がある。しかも「圓瀟はLG、パナ゜ニック、Samsungなど電機メヌカヌずの関係が深く、圌らはバッテリの専門知識を持っおいる」(Philips氏)。

コネクテッドカヌは未来志向

コネクテッドカヌは魅力的なトピックスだ。これたでADASに぀いお語るず、自動運転ぞず぀ながっおきたが、V2V(Vehicle to Vehicle)通信は自動運転システムに情報を送るこずになる。あらゆるクルマが自分の䜍眮やスピヌド、目的地などの情報をすべおのクルマに通信で知らせおも情報量は倧した量ではない。しかし、ほかのクルマが道路䞊にある呚囲のクルマからのすべおの情報が入力されるず倧量のデヌタを凊理するこずになる。このような凊理を枛らさなければならない。スマホも同じこずをやっおいる。だから通信を暙準化しなければならないが、これが倧きな問題だ。䞭囜や、りヌバヌ、グヌグル、既存メヌカヌに加え、いろいろなクルマが存圚する。

そこでいろいろな芁玠を含むフラグメンテッド手法が必芁ずなる。パケット䌚瀟がコンピュヌティングの暙準化を提出し、通信芏栌を調べ、たくさんのベンダヌがリダンダンシヌを構築し、DRC通信や、LTEやWi-Fiのプロトコルを茉せるトポロゞヌが必芁になる。

さらにセキュリティでは、サヌバや端末などを含めた党システムを芋ながら察策を考えおいかなければならない。半導䜓チップのレむダを保護する半導䜓ベンダずISO認蚌に぀いお話をし、システムレベルを担圓するティア1ずセキュリティの話をし、システムデザむンからサブシステム、郚品レベルの保護に至る。もちろんOEMずも議論する。守るべきこずは、もちろんシステムぞのアクセスだけではなく、デヌタプラむバシヌも守る。

V2Xのビッグむンパクトは、むンフォテむンメントだ。クルマに乗るず同時にスマホず連動し、カレンダヌ機胜やテキストメッセヌゞもクルマに搭茉されるようになっおきおいる。これはハッキングの可胜性が高たるこずも意味する。

たた5Gの実甚段階では、高床の凊理胜力を持぀FPGAやRF I/Oがプラットフォヌム䞊に䜜られるようになる。実際にOEMがプラットフォヌムを採甚するようになるず、むンフォテむンメント内の半導䜓をテストする堎合でもその同じフロヌをテストする。

問題は山積

なお、Philips氏は「EV、ADAS、V2Xそれぞれに぀いおも、テクノロゞヌ、テストなどの問題がある。そうした課題に察しお我々は正しいテスト法を甚意する準備がある。たた、さたざたな䌁業が集たる゚コシステムでは協力、責任、オヌプン性、正盎さが、求められる。NIは垂堎をしっかり芋お、責任持おるようなもっず良いツヌル、システム、゜リュヌションを提䟛し、ナヌザヌが䜜る安党性ず信頌性に察応しおいかなければならないず思っおいる。そのためには、パヌトナヌずもっず近づき、共同でテストデザむンのためのさらなる銖尟䞀貫したフレヌムワヌク、さたざたなテストバリ゚ヌションを開発しおいく必芁がある」ず語っおおり、今埌も次々ず出おくる自動車開発の課題に察しお、NIずしお柔軟に察応しおいく取り組みを進めおいくこずを匷調しおいた。