米オン・セミコンダクター(ON Semi)の日本法人であるオン・セミコンダクターは1月14日、工業検査や空中査察などのアプリケーションに向けた47メガピクセルのインターライントランスファー型CCDデバイス「KAI-47051イメージセンサ」を発表した。
「KAI-47051イメージセンサ」では薄型パネルの検査や航空写真測量などのアプリケーションで幅広く使用されている「KAI-29050イメージセンサ」と比較して解像度が50%超向上している。さらに、これらのアプリケーションで求められるCCDレベルの画質の均一性とグローバルシャッタ・アーキテクチャも維持されている。
また、大型の光フォーマットによる高解像度に加え、既存のデバイスと比較して読み出しノイズを15%抑えた低ノイズアンプが組み込まれており、ダイナミックレンジを66dBへ高めるとしている。加えて、16出力アーキテクチャにより、毎秒7フレームのスピードを実現、これは既存の低解像度デバイスの約2倍に相当する。
同社は同製品について「重要な工業検査・地図作成アプリケーションの性能と効率性をこれまでにないレベルに高めます」とコメントしている。