アドバンテスト、DRAMとNANDの両方の試験に対応可能なテストシステムを発表

アドバンテストは6月16日、DRAMとNAND型フラッシュメモリの両方の試験に対応可能なメモリ・テスト・システム(メモリテスタ)「T5833」を開発、2015年6月中に出荷を開始すると発表した。

同製品は、モバイル製品で用いられるDRAM(LPDDR3など)、NAND、MCP(Multi Chip Package)のウェハ試験とパッケージ試験を実施することができるもので、ウェハ試験は最大2048個、パッケージ試験は最大512個の同時テストが可能。また、複数のCPUを測定対象デバイスの試験工程に最適になるように組み合わせて制御する「フレキシブル・サイトCPU・アーキテクチャ」を採用することで、テスト時間の短縮とスループット向上を実現したとする。

さらに、ウェハ試験に不可欠な不良解析機能の解析速度は従来機比で約2倍に向上したほか、不良アドレス各脳機能も高速化しており、テスト時間の短縮と救済可能IC数の増加による歩留り改善を可能とする。加えて、スケーラブルな構造を採用しており、演算用CPUの追加などによる高機能化や高速化、大容量化を図ることができるため、現場のニーズに最適なシステムを初期投資を抑えつつ構築することを可能にするとしている。