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(a)測定された半導体試料の光学顕微鏡画像。電極に電気パルスを印加することで電子の波を生成できる。(b~g)試料からの発光の変化量の空間マッピング。Δtはパルスレーザー光と電気パルスの時間差が表されており、実時間に対応。青色の領域は被写体(電子の波)に対応しており、(c~e)のように試料の端を右方向に伝搬していく様子がわかる (出所:東北大プレスリリースPDF)

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