アドバンテスト、ディスプレイドライバ向けテストシステム「T6391」を発表

アドバンテストは10月27日、次世代ディスプレイドライバIC向けテストシステム「T6391」を発表した。

同装置は、多ピン化、高速インタフェース化、多機能化といった、次世代ディスプレイドライバICの技術トレンドに対応するテスト・プラットフォームで、同社が提供するディスプレイドライバICテスタ「T6300シリーズ」の後継機種として、TDL言語など従来同様の使用環境を継承しつつデータ処理および伝送速度を改善することにより、テスト・スループットを向上することを可能としたもの。

多ピンデバイス、高速インタフェース、アナログ回路やメモリなど、ディスプレイドライバICに求められるさまざまあ機能のテストをカバー可能で、高スループットのテストを実現する高速伝送路や、複数のチップを同時にテストできる512のI/Oチャンネルを備えているほか、最大3584ピンのLCDチャンネルは、フルHDやWXGA、スマートフォン向けのHD720といった高画質の映像規格向けドライバICのテストもカバーすることが可能だという。

また、I/Oピンは最大1.6Gbpsの周波数で動作し、モバイル機器の標準インタフェース規格であるMIPI向けディスプレイICをテストすることも可能なほか、モジュールを追加することで、4Kなどの次世代テレビ向けのディスプレイICのテストに必要な最大6.5Gbpsまで高速化が可能。さらに、アナログ機能のテストに対応した16チャンネルのAWG(arbitrary wave form:アナログテスト用の任意波形発生器)およびデジタル・キャプチャを備えており、タッチセンサ機能を搭載したディスプレイICのテストも可能なほか、ロジック回路のテストを効率化するSCPG(scan pattern generator)、メモリテスト用のパターンを発生するALPG(algorithmic pattern generator)、メモリセルのフェイル解析に用いるAFM(address fail memory)などの機能も揃えているという。

なお、同装置の出荷開始は2014年12月末を予定しているという。