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アルミニウムナノワイヤの大量森状成長手法、名大が開発

アルミニウムナノワイヤを有する薄膜断面の走査透過電子顕微鏡(STEM)-EBSD(結晶粒の傾き具合を示す方位の解析手法)像。(右上)ワイヤが成長しないイオンビーム未照射領域。(右下)ワイヤが成長するイオンビーム照射領域 (出所:共同プレスリリースPDF)

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