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RADECS 2017にて研究発表をする、ソシオネクストの加藤貴志氏 ⇒ PDFのダウンロードはこちら |
放射線が半導体デバイスに与える影響を検証・研究する際の測定器として、多くの実績を持つ「CloudTesting™Service」。ソシオネクストと富士通研究所でも、同分野の評価および研究のために同サービスを利用している。しかも両社の研究論文が、ソフトエラーなど、放射線が電子デバイスに与える影響に関する世界的に著名なカンファレンスであるRADECS(Conference on RADiation Effects on Components and Systems)2017で採択された。
本稿で紹介するPDFでは「RADECSに採択された研究はどのようなものなのか」「CloudTesting™Serviceのシステムをどのように利用しているのか」などについて、両社の担当者に詳しく話を聞いている。ここではその内容の一部を紹介しよう。
CloudTesting™Serviceを選択した理由
CloudTesting™Service(以下CTS)を活用して評価や先進的な研究を行った両社だが、そもそもCTSを選択した理由はなんだったのだろうか。ソシオネクストの加藤貴志氏は次のように語っている。
以前使っていたテスタが壊れたので、コンパクトなテスタを探していてCTSを見つけました。テスタとしてのリソース(チャンネル数など)や機能が十分だったので、採用を決めました。
CTSを使う前は他社製の小型テスタを使っていたのですが、CTSよりテスタのリソースが少ないので、できることに限りがありました。CTSは、小型ながら、Digital 128ch、DPS 8ch(CX1000Dの場合)という豊富なリソースがありパターンの容量も大きいので、必要な測定を実施することができます。以前使っていた小型テスタでは、テスタの電源チャンネルでは足りずGPIB制御の外部電源を使う必要があったのですが、CTSではその必要がなくなりました。
また、CTSはポータブルなので、大阪大学のRCNP(核物理研究センター)など各地の照射施設に持ち込んで使えるのもいいですね。
加えて、CTSはテスタを購入せずに使いたい時に使えるので、一時的にたくさんの台数を使うことができるのもいいところです。放射線照射設備を使う際は、設備の利用時間を効率的に使うために同時にできるだけ多くの測定を行いたいのですが、そういった時に、CTSならば放射線照射設備を使う月にだけ何台も契約して、測定が終わったら返却することができるので、測定にかかるコストを最適化することができます。
本稿で提供するPDFでは、このほかソシオネクストと富士通研究所が行った研究の詳細や、今後CTSを利用してどのような評価や研究を行うかなどについて解説している。さらに、実機での操作を体験できる完全無償のセミナーや、無償の会員登録でダウンロードできる詳しいスペックが記載されたマニュアルなどの情報も提供。CTSでは半導体デバイスの評価を効率化するIPを多数取りそろえている。興味を持った方は、ぜひダウンロードして確認していただきたい。
提供レポートのご案内
CTSを利用したソフトエラーの評価および研究
≪目次≫
- ソシオネクスト様と富士通研究所様のCloudTesting™Service導入事例
- 評価の概要
- 半導体と放射線
- 大阪大学 核物理研究センター(RCNP)に装置を持ち込んでの試験
- CX1000D MCU構成を利用したSRAMの測定
- IDDQ測定によって、ラッチアップを検知
- 測定用治具とテストプログラム
- 試験結果、試験時の工夫
- 富士通研究所様でのCTSの利用
- レーザーを使ったソフトエラーの研究
- レーザーを使う際の測定環境
- 研究の成果
- レーザーを使った評価の展望
- CloudTesting Serviceを選択した理由
- 今後の展開
- まとめ
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