筑波大、デバイスの電位変化をピコ秒の高時間分解能で計測する新手法を開発

(a)開発された実験装置の概要図。レーザー装置、波長変換を行う光学系、SEMで構成。(b)SEM装置内に置かれた穴開きミラー(穴の直径0.7mm)。紫外線パルスを電子源の方向に反射させ、電子源で生じた電子パルスを中央部の穴に透過させる。(c)時間分解SUEMの概念図。電圧(Vb)が印加された光伝導アンテナデバイスの状態を可視光パルス(緑色矢印)で変化させ、tだけ時間が経過した後に光電子パルス(黄色矢印)を照射し、二次電子の量を計測することで、瞬間的に変化するSEM画像を取得する仕組みだ(出所:筑波大プレスリリースPDF)