アドバンテストは、130dBのSN比およびダイナミックレンジにより、ハイレゾオーディオ向け単体デバイスに加え、PMICに組み込まれるオーディオDACの広帯域かつ高精度のテストを、追加のボードや計測器無しで可能にするテスト・システム「T2000」GPWGD(General Purpose Waveform Generator Digitizer)モジュールのHigh-Resolution Versionを発表した。

ハイレゾオーディオはさまざまな分野で活用が進みつつあるが、それに伴って24ビットまたは32ビットの高ダイナミックレンジのテストを必要とするDACを内蔵した、PMICの需要も増加している。今回、同社が発表したGPWGD High-Resolution Versionを使用することで、PMICとハイレゾオーディオDACの測定を1台のT2000で行うことが可能となるため、設備投資とテストサイクルタイムの削減を図ることが可能になると同社では説明している。

また、テストサイト数も他テスタの2倍を備えていることから、より高いスループットと低いテスト・コストを提供できるともしているほか、高いシステム拡張性を活用することで、開発評価と量産試験、既存のデバイステストと新デバイスのテストをシームレスに統合することも可能だとしている。

  • GPWGD High Resolution Module

    GPWGD High Resolution Module