テクトロニクス、400G PAM4電気テストの自動化ソリューションを発表

テクトロニクスは、OIF-CEI-56G VSR/MR/LR PAM4規格の包括的な400G電気コンプライアンス・テストを含む、PAM4テスト・ソリューションの拡充を発表した。

新製品の400G-TXEソフトウェアは、最高周波数帯域70GHzのモデルをラインアップしている高性能リアルタイム・オシロスコープDPO70000SXシリーズで実行されるソリューション。同ソリューションは自動ターンキー・ソリューションであり、一度の実行でPAM4のコンプライアンス・テストが行えるため、わずかなテスト時間で高い信頼性、再現性のあるテスト結果、優れた操作性が得られるという。

PAM4の符号化では、NRZ(Non-Return to Zero)に比べてシリアル・データ・チャンネルで2倍のデータ・レートになるが、複雑な変調方式により、テスト、測定において数多くの課題がある。PAM4の数多くの測定仕様は未だに流動的であり、規格で規定されている最新の測定技術でも難しいものになっている。複雑なテスト手順をすべて実行するのに要する時間は大きな課題であり、テスト・システムによって相関がとれる、信頼性のある測定結果も必要になってくる。同社の400Gソフトウェアは、仕様で規定されているリミットでの電気PAM4信号の検証が可能であり、OIF-CEI仕様レベルのコンプライアンス・テストに対応しており、ISIジッタまたは他の障害を含む、すべての条件において信頼性のある測定結果が得られるデジタル・クロック・リカバリ機能が含まれているということだ。

また、コンプライアンス・テストだけでなく、リアルタイム・オシロスコープ、等価時間オシロスコープの両方で実行可能なPAM4解析/デバッグ・ソフトウェア・ソリューションも用意されており、BERやアイの高さ/幅などの不良条件で詳細な検証が行えるという。なお、400G-TXEソリューションは、優れた低ノイズ性能、測定確度を持つ、高性能DPO70000SXシリーズの70GHz、59GHz、50GHzリアルタイム・オシロスコープで実行されるもので、OIF-CEIなどのハイスピード規格では、DPO70000SXシリーズで提供されているオシロスコープの周波数帯域が必要となる。

テクトロニクス、パフォーマンス・オシロスコープ、ジェネラル・マネージャのブライアン・ライクは、次のように述べている。「テクトロニクスは、DPO70000SXシリーズ・オシロスコープでPAM4テストを自動化することで、400Gに移行するための使いやすいターンキー・テスト・ソリューションをご提供します。400G電気PAM4規格のコンプライアンス・テストの優れた再現性は、成長を続けるデータセンタ・コミュニティに対するテクトロニクスPAM4測定ツールのラインアップに新たに追加されたアプローチです」