| IEDM 2012 -産総研、世界最小クラスの特性バラつきを実現したFinFETを開発 [09:30 12/13] |
| 【コラム】コンピュータアーキテクチャの話 第259回 Algorithmic Checkを用いたエラー検出 [08:00 7/20] |
| 【コラム】コンピュータアーキテクチャの話 第258回 エラーの検出手法 [08:00 7/6] |
| 【コラム】コンピュータアーキテクチャの話 第257回 2つのラッチによる中性子ヒットに対するエラー率低減手法 [08:00 6/22] |
| 【コラム】コンピュータアーキテクチャの話 第256回 エラーによる誤動作を防ぐ方法 - BISERフリップフロップ [08:00 6/8] |
| 【コラム】コンピュータアーキテクチャの話 第255回 LSIの動作に影響をおよぼすのは1MeV以上のエネルギーを持つ中性子 [08:00 5/25] |
| 【コラム】コンピュータアーキテクチャの話 第254回 間欠故障の最大要因 - 中性子線ソフトエラー [08:00 5/11] |
| 【コラム】コンピュータアーキテクチャの話 第253回 部品の故障率 [08:00 4/27] |
| 【コラム】コンピュータアーキテクチャの話 第252回 マイクロプロセサのテストと部品の初期故障 [08:00 4/13] |
| 【コラム】コンピュータアーキテクチャの話 第251回 メモリのテスト方式 [08:00 3/30] |
| 【コラム】コンピュータアーキテクチャの話 第250回 故障によって、どのようなことが起こるのか [08:00 3/16] |
| 【コラム】コンピュータアーキテクチャの話 第249回 プロセサが良品であることをどうやって保証するのか [08:00 3/2] |
| 【コラム】コンピュータアーキテクチャの話 第248回 プロセサ内部におけるデカップリングキャパシタ [07:00 2/17] |
| 【コラム】コンピュータアーキテクチャの話 第247回 プロセサチップ内部における電源配線 [07:00 2/3] |
| 【コラム】コンピュータアーキテクチャの話 第246回 パッケージにおける電源インピーダンスの考え方 [07:00 1/20] |
| 【コラム】コンピュータアーキテクチャの話 第245回 プリント基板/ソケットピン/パッケージそれぞれのインダクタンス [07:00 1/6] |
| 【コラム】コンピュータアーキテクチャの話 第244回 電源電流の変化量 [07:00 12/22] |
| IEDM 2011 - 産総研、14nm世代Fin-FETの特性バラつきの主要因を解明 [07:00 12/9] |
| 【コラム】コンピュータアーキテクチャの話 第243回 プロセサの電圧を生み出すDC-DCコンバータ [07:00 12/9] |
| IEDM 2011 - FSLとSuVolta、約0.4Vの低電圧で動作するSRAMを開発 [08:00 12/8] |
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