広島大学は、遺伝的に均一なヒト培養細胞にゲノム編集法を用いて特定の遺伝子変異を導入して放射線によって生じる染色体構造異常を定量的に計測することで、放射線感受性の個人差を決定する遺伝子変化を同定する手法を確立し、ATMヘテロ遺伝子変異が放射線高感受性の遺伝要因のひとつであることを証明した。

同成果は、広島大学原爆放射線医科学研究所の松浦伸也 教授と宮本達雄 講師、大学院生のエカテリーナ・ロイバ氏らの研究グループと、同大学の大学院理学研究科、医歯薬保健学研究科、茨城大学理学部との共同研究によるものだ。詳細は、英国の科学雑誌「Scientific Reports」(オンライン版)に掲載された。

放射線照射後にDNA損傷修復に失敗した場合、染色体断片が産生される。したがって、微小核を計測することで細胞のDNA修復能を測定することができる。放射線感受性の高い(DNA修復能が低い)細胞は微小核形成頻度が高くなる

従来、放射線感受性は、放射線照射後にどの程度細胞が生存したかを指標にして測定されており、放射線致死感受性として定義されてきた。同研究では、放射線照射後の染色体構造異常を計測することで、DNA損傷修復能を放射線感受性として定義した。

松浦教授は「放射線に強い、あるいは弱いといった体質があることが示唆されてきたが、その遺伝素因のひとつを実証できた。同成果は、放射線防護のテーラーメイド化への第一歩になると期待している」とコメントした。