アドバンテスト、SiP/複合モジュール用テストシステム「T2000 AiR」を発売

アドバンテストは11月1日、同社のテストシステム「T2000」のラインアップとして新たに、開発および多品種少量生産向けの小型空冷システム「T2000 AiR」を開発し、受注を開始したことを発表した。

同システムは、複数のチップを集積したSiPなどのデバイスや複合モジュールの開発ならびに多品種少量生産向けに開発されたもので、同社のテスト・ハンドラ「M48xxシリーズ」のテスタ接続スペースに収まる小型サイズに加え、冷却水供給設備も不要としている。

また、同システム向けに15種類以上の空冷計測モジュールを用意。これにより複雑化・多機能化するデバイスやモジュールのさまざまな試験要求に1台で対応可能とするほか、大量生産への移行時にはT2000シリーズで、同じソフトウェア環境をそのまま利用することも可能だという。

なお、同システムの出荷開始は2017年の1～3月期を予定しているという。