ON Semiconductorは3月2日、25ルクスの低照度で高速フォーカスを実現する独自のピクセルマイクロレンズを用いた第2世代の位相差オートフォーカス(Phase Detect Auto Focus:PDAF)技術を発表した。
同技術は、1.1μmピクセルで構成される13メガピクセル(MP)テストチップへの実装に成功し、今年後半に個人向けモバイル市場の新製品に組み込まれる予定。
従来のスマートフォンのオートフォーカス(AF)のアルゴリズムでは、コントラスト検出測定およびマルチフレームを使用してレンズのフォーカスを調整しており、画像のフォーカスに1.2秒以上要することがある。
これに対し、同社のPDAF技術では、2つのピクセルを使用して画像の位相情報を測定。次に、この位相情報を使用して、フォーカス・アクチュエータの速度に応じて0.3秒未満でレンズが移動するために必要な方向と総量を計算する。
また、感度をPDAFピクセルで維持し、薄暗い部屋に相当する25ルクスほどの低照度の条件でもPDAFのために十分な光をキャプチャできる独自のピクセルマイクロレンズ構造も採用した。これにより、スマートフォンのオートフォーカスの時間が約4分の1に短縮する。
