キーサイト、RF PA特性評価/テスト用PXIリファレンスソリューションを発表

Keysight Technologiesの日本法人であるキーサイト・テクノロジーは10月22日、RFパワーアンプ(PA)特性評価/テスト用PXIリファレンスソリューションを発表した。

同リファレンスソリューションは、PXI方式の筐体を採用すると同時に、Sパラメータ、高調波歪み、パワー、復調測定機能を備えている。そのため、設置面積が小さいだけでなく、PA+デュプレクサ(PAD)など、次世代PAモジュールの特性評価を短時間で実行でき、高いスループットと測定確度を実現できるように最適化されている。加えて、フィルタやデュプレクサなどパワーアンプ周辺のパッシブデバイスのデザイン検証と製品の量産用特性評価テストにも対応している。

また、同ソリューションのデジタルプリディストーション(DPD)アルゴリズムは、長年にわたるユーザーとの連携と同社のSystemVueシミュレーションソフトウェア、N7614B Signal Studio for Power Amplifier Testソフトウェアアプリケーションの要素技術を基に作られている。このDPDアルゴリズムにより、次世代PAモジュールに対してシミュレーションから製造まで一貫性のある測定が可能なソリューションを構築できたという。

そして、実証済みのDPDアルゴリズムとルックアップテーブル(LUT)、メモリ多項式機能がリファレンスソリューションのエンベロープトラッキング(ET)テスト機能を補完する。この他、同ソリューションにはETテストに重要な高速波形ダウンロード、正確な同期、自動校正の機能も備わっている。なお、同ソリューションは、SignadyneのSD AOU-H3353や高速PXIe任意波形発生器(AWG)などにも対応しており、業界で最速クラスのエンベロープ波形作成と機器の設置面積の削減を同時に実現するとしている。